Röntgenfluoresenssia (XRF) käytetään näytteen alkuainejakauman määrittämiseen kiinteistä ja nestemäisistä näytteistä. Näytteessä kulkevat röntgensäteet aktivoivat atomeja lähettämään röntgensäteilyä, joka on energialtaan spesifistä eri alkuaineille. Röntgensäteilyn aiheuttaman karakteristisen röntgensäteilyn energia ja intensiteetti mitataan.

XRF-analyysillä voidaan tunnistaa alkuaineet Be-U välillä PPM-tasolta sataan prosenttiin. Koska röntgensäteily tunkeutuu näytteen sisään; voidaan näytettä analysoida n. 10 µm syvyyteen saakka. XRF-analyysillä saadaan luotettavasti informaatiota sekä kiinteiden, että nestemäisten näytteiden alkuainekoostumuksesta.

XRF-analyysimenetelmiä on kahta tyyppiä, aallonpituusdispersiivinen (WDXRF) ja energiadispersiivinen (EDXRF). Erona menetelmissä on kuinka karakteristinen röntgensäteily tunnistetaan. WDXRF instrumenteilla on loistava energiaresoluutio, jonka vuoksi päästään matalampaan taustaintensiteettiin  ja vähäisempiin spektrien päällekkäisyyksiin.

STENMAN MINERALS Ab:n käytössä on PANalytical Axios mAX 4kW, WDXRF (aallonpituusdispersiivinen röntgenfluoresenssianalysaattori).

Tyypillisimpiä näytteitä

  • Kemiallisen koostumuksen analysointi kiinteistä, nesteistä sekä jauheista
Tilaa analyysi
Soveltuu parhaiten
  • Alkuaineiden tunnistus ja määräsuhteiden mittaaminen
  • Lejeerinkien tunnistus
Vahvuudet
  • Näytettä vahingoittamaton
  • Semikvantitatiivisella menetelmällä; vähäinen, tai olematon näytteen esikäsittelyn tarve
  • Soveltuu kiinteille, nesteille sekä jauheille
  • Analysointisyvyys n. 10 µm
Rajoitukset
  • Ei sovellu berylliumia (Be) kevyempien alkuaineiden analysoimiseen
  • Vaatii näytemateriaalin kaltaisen standardin saavuttaakseen kvantitatiivisen määritystason
  • Ei tarjoa kemiallista koostumustietoa syvyysprofiililta
Tekniset tiedot
  • Signaalin tunnistus: röntgensäteily
  • Analysoitavat alkuaineet: Be-U

WD-XRF on kalibroitu Li-boraattilasinapeille käyttäen sertifioituja luonnonkivistandardeja. Analyysisarjaan kuuluu seuraavat pääalkuaineet massaprosentteina: SiO2, TiO2, Al2O3, Fe2O3, MnO4, MgO, CaO, Na2O, K2O ja P2O5, sekä seuraavat sivu- ja hivenalkuaineet (ppm): Ba, Ce, Cr, Cu, Co, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sr, U, V, Y, Zn ja Zr.

Kvantitatiivisen analyysitavan lisäksi laitteella voi käyttää Omnian standarditonta semikvantitatiivista analyysitapaa. Tämä menetelmä tunnistaa automaattisesti/puoliautomaattisesti näytteessä olevat alkuaineet ja laskee niistä semikvantitatiivisen analyysitulokset. Tällä menetelmällä voidaan analysoida alkuaineet hapesta uraaniin.

  • Näytteet voidaan mitata vakuumissa, tai He-ilmakehässä
Käyttökohteet
  • Koko kiven kemiallinen koostumus
  • Saostumat
  • Prosessituotteet
  • Raskasmetalleilla pilaantuneet maat
  • Jalometallipitoisuudet
  • Soijanäytteet
  • Maalit
  • Metallit
  • Kuona
  • Nesteet